Сканирующий электронный микроскоп CIQTEK SEM5000Pro с приставкой EDX Oxford Instruments Xplore предназначен для изучения поверхности, микроструктуры и элементного состава материалов. Электронный пучок формирует увеличенное изображение образца, а приставка EDX определяет присутствующие химические элементы и строит карты их распределения. Прибор позволяет исследовать слабопроводящие, неметаллические и магнитные образцы. Работа при низких напряжениях уменьшает накопление заряда и повреждение материала.

В переработке минерального сырья система применяется для исследования руд, концентратов и хвостов: оценки структуры, степени освобождения ценных минералов от окружающей породы и выявления мелких включений, содержащих тяжёлые, редкоземельные и благородные металлы.

Микроскоп оснащён электронной пушкой Шоттки и обеспечивает разрешение 0,8 нм при 15 кВ и 1,2 нм при 1 кВ в режиме вторичных электронов. Ускоряющее напряжение регулируется от 20 В до 30 кВ, увеличение — от 1× до 2 500 000×. Столик перемещается по осям X/Y до 110 мм и Z до 50 мм, наклоняется от −10° до +70° и вращается на 360°. Стандартные детекторы — In-lens и Эверхарта—Торнли (ETD); дополнительно доступны BSED, STEM, низковакуумный детектор, EDS и EBSD. Предусмотрены автоматические фокусировка, коррекция астигматизма, настройка яркости и контраста.